Проведение анализа различных материалов с использованием сканирующего электронного микроскопа в режиме вторичных электронов (SE) и обратно рассеянных электронов (BSE); Проведение качественного и количественного геометрического анализа регулярных и периодических структур, полученных методами литографии на плоских технологических подложках; Изучение локального химического состава материалов с использованием энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX); Изучение кристаллографической ориентации материалов с использованием метода микродифракции обратно рассеянных электронов, обработка полученных экспериментальных результатов с использованием программного обеспечения; Подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии с использованием сфокусированного ионного пучка (FIB); Изучение наноструктурированных материалов, тонких пленок, нанопокрытия и других материалов в режиме высокого разрешения (с использованием специального детектора и монохроматора); По согласованию с непосредственным руководителем освоение новых методов и способов анализа образцов, а также проведение анализа на ином оборудовании в соответствии с требованиями проводимых исследований; Проведение анализа и интерпретации полученных экспериментальных результатов; Подготовка отчетов; Взаимодействие с клиентами в рамках выполнения проектов; Проведение обучения новых пользователей.